XRF鍍層測厚儀
2017-08-31 15:44:59
optima
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XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等；
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；
應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從12(Mg)到92(U);
5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;
元素光譜定性分析;
測試方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
應用群體主要集中在：電路板、端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機構以及研究所和高等院校等；
原理：X射線熒光
什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個特定區域,它由原子內部電子躍遷產生,其波長范圍在0.1-100Å;能量大于100電子伏特.
什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。
射線管的對比：
微焦X射線管在更小的束斑下，激發更高的熒光X射線強度， 更高計數率，改善分析精度，到達更小的激發X射線束斑.
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